ZEISS METROTOM
用于质量保证的三维 X 射线测量技术
基于蔡司METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精确性的高要求。
ZEISS METROTOM 创新技术
第三代新款蔡司METROTOM 1500-面向未来的质量控制——今天
蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描（CT）系统蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天，您可以使用面向未来的质量控制。
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第三代计算机断层扫描（CT）系统
蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天，您可以使用面向未来的质量控制。
ZEISS METROTOM 特性
看得更多。
在第三代系统中，新的3k检测器可生成更高分辨率的3D体数据集，即更多体素可以检测到更小的缺陷。
扫描更快。
通过检测器的不同操作模式，扫描时间可减少多达75％，同时获得与2k检测器相当的体素尺寸。
测量与检验整体部件
蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描系统，用于测量和检查由塑料或轻金属制成的完整部件。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。
轻松且精准地进行多样化特征检测
利用蔡司METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精确，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，蔡司METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。
直观简易的软件操作
仅需通过短时间的蔡司METROTOM OS 软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。通过蔡司CALYPSO和NEO软件，您可以评估CT数据，通过蔡司PiWeb，它们可以在一个测量报告中快速合并。
蔡司METROTOM系列 型号
METROTOM 800 130 kV
高精准度
部件尺寸 | ●○○○ |
精度 | ●●●● |
时间 | ●○○○ |
面积 | ●●●● |
密度 | ●●○○ |
分辨率 | ●●●● |
ZEISS METROTOM 6 scout
快速采集，高密度的部件
部件尺寸 | ●●○○ |
精度 | ●●●○ |
时间 | ●●●○ |
面积 | ●●○○ |
密度 | ●●●○ |
分辨率 | ●●○○ |
ZEISS METROTOM800 225kV HR快速获取，高密度的部件和细节描述
部件尺寸 | ●●○○ |
精度 | ●●●○ |
时间 | ●●○○ |
面积 | ●●○○ |
密度 | ●●●○ |
分辨率 | ●●●○ |
ZEISS METROTOM 1500即使对于非常大的部件也能实现更多的灵活
部件尺寸 | ●●●● |
精度 | ●●○○ |
时间 | ●●●● |
面积 | ●○○○ |
密度 | ●●●● |
分辨率 | ●●●○ |