3D量测｜Alicona Tech News
Alicona 3D粗糙度检测
过往粗糙度检测常是藉由轮廓仪对物体表面进行刮线检测，然而这种方式存在许多问题，Alicona则利用焦距变化(Focus Variation)的技术进行3D形面及粗糙度扫描，记录下表面上的三维信息，使其能更快速、更准确地检测表面粗糙度。
量测原理
快速且精确地纪录下物体的表面信息，是在3D检测非常重要的要素。
Alicona的变焦技术，利用彩色CCD Camera配合Z轴的位移，如同断层扫描般地在各个Z轴的位置撷取最高质量的影像信息，透过软件计算将影像转换为3D的点云数据，快速扫描并记录下样品表面信息，可同时检测表面的粗糙度及形面信息，并可重复检测已记录过的表面，提高量测的重复性。
Alicona 3D粗糙度量测特性
A、非接触式量测
以往的粗糙度检测多为使用轮廓仪在样品表面刮出一条线做2D的粗糙度量测。这在量测上往往会有许多限制或缺陷，如：
- 探针的磨损
- 检测长度的限制
- 量测产生的刮痕
- 无法量测有黏性的样品
- 触针顶端尺寸限制
- 量测重复性低
而使用Alicona光学式的非接触量测，不但可以避免以上的问题，还能利用光学式的原理进行大范围的量测，提供更详细及庞大的数据数据。
B、面粗糙度检测
过往轮廓仪检测粗糙度是属于2D的线粗糙度，然而以单一的轮廓线去判断整个平面的粗糙度往往会有误判的情况。面粗糙检测是光学式3D粗糙度检测的特点，透过快速且大范围的扫瞄，记录下样品表面上的信息，并对整个表面进行粗糙度的检测分析，更准确地反映出样品表面粗糙度的实际情况。
C、形面去除(Form removal)
在量测样品粗糙度时，遇到最大的问题莫过于粗糙度数据被样品形面的信息影响，如量测圆柱形样品或曲面变化较大的平面时。在Alicona的检测功能中可将表面上的形面数据去除，仅保留粗糙度信息，帮助用户更准确地检测行面上的粗糙度。
Alicona长期致力于微观检测，透过光学扫描的方式，取得庞大的数据，改善了以往轮廓仪取样不足的缺点，并能配合后端软件的运算，去除形面，保留粗糙度信息，克服轮廓仪在形面上数据失准的状况，使得Alicona在粗糙度检测的应用更加广泛。
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