FEATURES
Alicona µCMM 纳米级光学三坐标量测设备
Alicona µCMM是第一台纯光学CMM机床，用于高精度3D测量极小的公差。用户结合了触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优势，仅使用一个传感器即可测量组件的尺寸，位置，形状和粗糙度。Alicona光学CMM可以提供相对于彼此的多个光学3D测量结果的高几何精度，从而可以对大型组件上的小表面细节进行测量，并可以精确地确定这些单独的测量结果相对于彼此的位置。
可测量表面的范围包括所有常见的工业材料和復合材料，例如塑料，PCD，CFRP，陶瓷，铬，硅。一键式解决方案实现了简单的操作，自动化和人体工程学控制元素，例如专门设计的控制器。带有直线驱动器的空气轴承轴可实现无磨损使用以及高精度，快速的测量。
直观的可用性，专为多个用户而设计
可测量表面的光谱在很大程度上与材料无关，包括从哑光到抛光或镜面反射的组件，该行业通常使用的所有材料和復合材料。
密集的非接触式且与材料无关的测量
Alicona 3D测量系统提供了表面功能以及将坐标测量系统集成到一个系统中的功能。结果，您的质量保证将变得更具成本效益，更易于执行并更有效地交付结果。
无磨损高效使用
所有组件，包括运动轴，均无接触运行。空气轴承线性驱动轴可实现无磨损运行以及高精度，快速测量。这使μCMM成为生产中永久使用的理想选择。
Specification
Alicona μCMM 产品规格
| alicona µCMM设备规格 | |
|---|---|
|
量测范围
|
310 x 310 x 310 mm
|
|
设备尺寸
|
approx. 960 x 1109 x 2288 mm
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设备重量
|
approx. 1250 kg
|
|
工作温度
|
+20°C to+25°C
|
| alicona µCMM镜头规格 | |||||
|---|---|---|---|---|---|
|
|
1500A
|
800A |
400A |
150A |
80A |
|
量测面积[mm]
|
2.63 x 2.63
|
1.32 x 1.32
|
0.66 x 0.66
|
0.26 x 0.26
|
0.13 x0.13
|
|
点间距离[μm]
|
1.53
|
0.76
|
0.44
|
0.18
|
0.09
|
|
工作距离[mm]
|
23.5
|
17.5
|
19 |
11 |
4.5 |
|
最小粗糙度检测[μm]
|
0.6
|
0.15 |
0.075 |
0.03 |
0.015 |
|
最小R角检测[μm] |
10 |
5 |
3 |
2 |
1 |
|
三维精度（ISO 10360-8） |
EUni:Tr:ODS,MPE = (0.8 + L/600) μm｜
EUniZ:St:ODS,MPE = (0.15 + L/50) µm |
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Applications
Alicona μCMM 应用
Alicona µCMM是同类产品中最精确的纯光学微坐标测量系统。用户将触觉坐标测量技术和光学表面测量的优势相结合，仅用一个传感器即可测量组件的尺寸，位置，形状和粗糙度。现在也可以光学测量大于90°的垂直表面。
Focus Variation 自动变焦技术 Alicona 3D测量系统基于Focus Variation 自动变焦技术，该技术完美融合了表面粗糙度测量仪器和形貌测量仪器的功能。每一台Alicona测量系统都是一台集合表面测量设备，表面粗糙度测量设备，真实三维测量设备于一体的微米级坐标设备。Focus Variation 自动变焦技术将光学系统的小焦深与垂直扫描相结合，从焦点的变化中提供形貌和颜色信息。该系统的主要组成部分是包含各种镜头部件的精密光学系统，可配备不同的物镜，以不同的分辨率进行测量。